Facebook
Настільний скануючий електронний мікроскоп JCM-7000 від JEOL, Японія

Настільний скануючий електронний мікроскоп JCM-7000 від JEOL, Японія

Артикул: Х0505428
Під замовлення
Товар доступний за попереднім замовленням. Термін поставки - від 60 календарних днів.
Мінімальна сума замовлення – 200 грн (без врахування доставки)
Ціни не враховують доставку та можуть змінюватись, остаточну ціну просимо уточнювати

JCM-7000 NeoScopeНастільний сканувальний електронний мікроскоп - це прилад четвертого покоління, який поєднує в собі компактні габарити з аналітичною потужністю повнорозмірних дослідницьких систем. Функція Zeromag забезпечує безшовний перехід від кольорового оптичного знімка до електронного зображення для швидкої навігації, а вбудована система Live Analysis визначає хімічний склад елементів у реальному часі. Завдяки автоматичному налаштуванню фокусування, контрасту та наявності режиму низького вакууму, прилад дозволяє досліджувати діелектричні, біологічні та вологовмісні зразки без складного й тривалого попереднього напилення.

Головними перевагами мікроскопа є високий ступінь автоматизації, миттєва Live 3D-реконструкція поверхонь та можливість досліджувати складні об'єкти без спеціальної підготовки. Завдяки цьому пристрій ефективно використовується у науково-дослідних центрах та на промислових підприємствах для експертизи матеріалів і контролю якості. Крім того, він є важливим елементом матеріально-технічного оснащення навчальних лабораторій у коледжах та університетах, де допомагає наочно демонструвати студентам мікроструктури.

Технічні характеристики
Тип обладнання: настільний сканувальний електронний мікроскоп (SEM)
Тип мікроскопування: скануючий
Збільшення: від x10 до x100 000 (у вторинних електронах)
Режими вакууму: високий (для провідних зразків) та низький (для діелектриків)
Кількість детекторів: 2 (детектор вторинних електронів SE та багатоканальний детектор зворотно-розсіяних електронів BSE) + EDS-детектор як опція
Прискорювальна напруга: 5 кВ, 10 кВ, 15 кВ
Елементний аналіз (EDS): енергодисперсійна рентгенівська спектроскопія (визначення елементів від бору B до урану U)
Максимальні розміри зразка: діаметр до 80 мм, висота до 50 мм
Столик зразків: моторизований за двома осями (X, Y)
Автоматизація: автоматичне вирівнювання променя, фокусування, стигматизація, регулювання яскравості та контрасту