Дифрактометр TELLUS Pro. X-ray
Дифрактометр рентгенівський TELLUS Pro. Виробник LINEV Systems, Литва.
Дифрактометр рентгенівський TELLUS Pro — настільний рентгенівський дифрактометр дослідницького класу, призначений для розширеного аналізу матеріалів, зокрема тонких плівок, текстурного та залишкового напруження. Обладнання підтримує методики GIXRD, XRR, HRXRD, а також температурозалежний рентгеноструктурний аналіз. Завдяки незв'язаному гоніометру з незалежним приводом важелів, двовісному столику для зразків та квазіпаралельній оптиці (дзеркала Гьобеля, колімаційні пластини), прилад забезпечує високу точність позиціонування та гнучкість геометрій сканування. Наявність внутрішньої замкненої системи водяного охолодження усуває потребу в зовнішньому охолодженні, а сучасні детектори (ADVACAM MiniPIX TPX3 або DECTRIS MYTHEN2 R) забезпечують високу швидкість і чутливість вимірювань.
Технічні характеристики:
Вид обладнання: рентгенівський дифрактометр
Модель: TELLUS Pro
Виробник: LINEV Systems (Литва)
Рентгенівський генератор: 40 кВ / 30 мА (1 200 Вт) або 40 кВ / 15 мА (600 Вт)
Анодна мішень: Cu (опційно: Cr, Co, Fe, Mo)
Система охолодження: внутрішня замкнена система водяного охолодження
Тип гоніометра: вертикальний θ-θ, незв'язаний, радіус 150–210 мм
Столик для зразків: двовісний (2-axis Z-Phi stage)
Діапазон сканування (2θ): –12°…+160°
Діапазон кута джерела: –6°…+125°
Діапазон кута детектора: –6°…+145°
Мінімальний крок (2θ): 0,0003°
Точність позиціонування: ±0,01° (2θ)
Швидкість сканування: 0,01–600°/хв
Мінімальний FWHM: ≤0,03°
Детектор: ADVACAM MiniPIX TPX3 (2D) або DECTRIS MYTHEN2 R (1D)
Інтерфейс підключення: USB / Ethernet
Програмне забезпечення та бази даних: TELLUSCon, спеціалізоване ПЗ, бази даних COD та PDF-2
Відповідність стандартам: CE, ISO 9001:2015
Габаритні розміри (ШхГхВ): 700х700х860 мм
Маса: 115 кг
Сфери застосування:
Матеріалознавство та нанотехнології
Застосовується для аналізу тонких плівок, визначення кристалічної структури, проведення рентгенівської рефлектометрії (XRR) та ковзної рентгенівської дифракції (GIXRD).
Промисловий та металургійний контроль
Використовується для кількісного та якісного фазового аналізу в багатокомпонентних зразках, текстурного аналізу, оцінки залишкового напруження в металах, сплавах і кераміці.