Дифрактометр TELLUS Pro. X-ray
Дифрактометр рентгеновский TELLUS Pro. Производитель LINEV Systems, Литва.
Рентгеновский дифрактометр TELLUS Pro — настольный рентгеновский дифрактометр исследовательского класса, предназначенный для расширенного анализа материалов, в частности тонких пленок, текстурного и остаточного напряжения. Оборудование поддерживает методики GIXRD, XRR, HRXRD, а также температурный рентгеноструктурный анализ. Благодаря несвязанному гониометру с независимым рычажным приводом, двухосному столику для образцов и квазипараллельной оптике (зеркала Гебеля, коллимационные пластины), прибор обеспечивает высокую точность позиционирования и гибкость геометрий сканирования. Наличие внутренней замкнутой системы водяного охлаждения устраняет необходимость внешнего охлаждения, а современные детекторы (ADVACAM MiniPIX TPX3 или DECTRIS MYTHEN2 R) обеспечивают высокую скорость и чувствительность измерений.
Технические характеристики:
Вид оборудования: рентгеновский дифрактометр
Модель: TELLUS Pro
Производитель: LINEV Systems (Литва)
Рентгеновский генератор: 40 кВ/30 мА (1200 Вт) или 40 кВ/15 мА (600 Вт)
Анодная мишень: Cu (опционально: Cr, Co, Fe, Mo)
Система охлаждения: внутренняя замкнутая система водяного охлаждения
Тип гониометра: вертикальный θ-θ, несвязанный, радиус 150–210 мм.
Столик для образцов: двухосный (2-axis Z-Phi stage)
Диапазон сканирования (2θ): –12°…+160°
Диапазон угла источника: –6°…+125°
Диапазон угла детектора: –6°…+145°
Минимальный шаг (2θ): 0,0003°
Точность позиционирования: ±0,01° (2θ)
Скорость сканирования: 0,01–600°/мин
Минимальный FWHM: ≤0,03°
Детектор: ADVACAM MiniPIX TPX3 (2D) или DECTRIS MYTHEN2 R (1D)
Интерфейс подключения: USB/Ethernet
Программное обеспечение и базы данных: TELLUSCon, специализированное ПО, базы данных COD и PDF-2
Соответствие стандартам: CE, ISO 9001:2015
Габаритные размеры (ШхГхВ): 700х700х860 мм
Масса: 115 кг
Сферы применения:
Материаловедение и нанотехнологии
Применяется для анализа тонких пленок, определения кристаллической структуры, проведения рентгеновской рефлектометрии (XRR) и скользящей рентгеновской дифракции (GIXRD).
Промышленный и металлургический контроль
Используется для количественного и качественного фазового анализа в многокомпонентных образцах, текстурного анализа, для оценки остаточного напряжения в металлах, сплавах и керамике.