Сканувальний електронний мікроскоп із польовою емісією (FE) JSM-IT810, JEOL, Японія
Сканувальний електронний мікроскоп із польовою емісією (FE) JSM-IT810. Виробник JEOL, Японія.
Сканувальний електронний мікроскоп із польовою емісією JSM-IT810 від японського виробника JEOL - це флагманська модель серії InTouchScope, призначена для наномасштабних досліджень. Завдяки системі інтелектуального керування NEOENGINE прилад гарантує виняткову стабільність електронного променя й автоматичне корегування зображення при зміні напруги чи струму. Інтерфейс SEM Center та функція Zeromag забезпечують швидкий і плавний перехід від оптичного до електронного знімка, роблячи мікроскоп ефективним рішенням для матеріалознавства, нанотехнологій та контролю якості. Головною перевагою моделі є функція Neo Action, яка повністю автоматизує серійну зйомку та елементний аналіз (Live EDS) без програмування. Режим низького вакууму дозволяє досліджувати непровідні та вологі зразки без нанесення струмопровідного покриття, а функція Live 3D будує тривимірну топографію поверхні в реальному часі.
Характеристики:
Тип мікроскопа: сканувальний електронний з польовою емісією (FE-SEM).
Електронна гармата: високоефективне катодне джерело (Schottky FEG) зі струмом зонда до 500 нА.
Роздільна здатність: до 0,5 нм (при 15 кВ) або 0,7 нм (при 1 кВ) у версії SHL.
Діапазон збільшення: від x10 до x2 000 000.
Напруга прискорення: від 0,01 кВ до 30 кВ.
Режими вакууму: високий вакуум, режим низького вакууму.
Елементний аналіз: інтегрований Live EDS-аналізатор.
Автоматизація: система Neo Action (безкодовий автоматичний аналіз та зйомка).
Тривимірна візуалізація: функція Live 3D для оцінювання топографії в реальному часі.
Система керування: інтелектуальна платформа NEOENGINE з інтерфейсом SEM Center.
Сфери застосування:
Матеріалознавство та нанотехнології:
дослідження наноструктур, аналіз поверхні та морфології з високою роздільною здатністю за допомогою польової емісії.
Контроль якості та наукові дослідження:
проведення автоматизованої серійної зйомки та елементного аналізу безпосередньо в реальному часі, дослідження непровідних і вологих зразків без нанесення спеціальних покриттів.