Facebook
Микроскоп инвертированный трехнокулярный OX.2653-PLM, Euromex

Микроскоп инвертированный трехнокулярный OX.2653-PLM, Euromex

Артикул: Х0428246
Под заказ
Товар доступен по предварительному заказу. Срок поставки - от 60 календарных дней.
Минимальная сумма заказа – 200 грн (без учета доставки)
Цены не учитывают доставку и могут меняться, окончательную цену просим уточнять

Микроскоп инвертированный тринокулярный OX.2653-PLM Производитель: Euromex, Нидерланды

Микроскоп инвертированный тринокулярный металлографический серии Oxion Inverso предназначен для проведения материаловедческих и металлографических исследований непрозрачных объектов в отраженном и проходящем свете, а также в поляризованном свете. Конструкция инвертированного типа позволяет исследовать массивные, крупногабаритные или тяжелые образцы металлов, сплавов, полимеров и минералов без ограничения по высоте. Прибор оснащен оптической системой, скорректированной на бесконечность (IOS), с плана хроматическими и полуапохроматическими объективами с увеличенным рабочим расстоянием (LWD) и более широкопольными очками HWF Plan 10x/22 мм. Модель оснащена просторным предметным столиком с механическим препаратоводом, галогенным осветителем по методу Келера мощностью 50 Вт и встроенным поляризационным модулем.

Характеристики:
Бренд: Euromex
Страна производства: Нидерланды.
Тип изделия: инвертированный микроскоп тринокулярный металлографический (материаловедческий)
Тип насадки: трехнокулярная, угол наклона тубусов 45°, с двухпозиционной регулировкой высоты (верхнее/нижнее положение)
Межземное расстояние: 54–75 мм, диоптрийная коррекция на левом очке
Очки: пара HWF Plan 10x/22 мм
Револьверная головка: реверсивная (опрокинутая), 5-позиционная на шариковых подшипниках
Объективы: плана хроматические PL 5x, 10x, 20x LWD IOS и полуапохроматический 50x LWD IOS с увеличенным рабочим расстоянием, скорректированные на бесконечность
Оптическое покрытие: противогрибковое и антибликовое
Предметный столик: размер 250 x 230 мм с механическим X-Y препаратоводителем (диапазон перемещения 120 x 78 мм) и металлической вставкой с отверстием
Конденсор: Аббе с ирисовой апертурной и полевой диафрагмой
Система освещения: проходное галогенное 50 Вт по методу Келера с регулировкой интенсивности
Поляризационный модуль: поляризационный фильтр и анализатор с вращением на 360°
Питание: встроенный блок питания 90–240 В (CE)
Комплектация: кабель питания, металлическая вставка для столика, поляризационный фильтр, анализатор, синий и зеленый светофильтры, пылезащитный чехол, инструкция по эксплуатации, алюминиевый кейс для транспортировки и хранения

Сферы применения:
Металлография и материаловедение
Применяется для анализа микроструктуры металлов, сплавов, сварных швов, оценки зернистости, неметаллических включений и контроля качества термообработки.
Промышленный контроль качества и дефектоскопия
Используется для исследования изломов, трещин, коррозионных поражений, контроля толщины и структуры нанесенных покрытий, а также для анализа микроэлектронных компонентов и полупроводников.